規(guī)定電容器的電容值與出廠值之間的偏差與各種電容器的偏差要求值又不相同的矛盾

來源：m.02595e.com    更新時(shí)間：2018-03-22

在Q/CSG 10007-2004與DL/T 596-1996中除了規(guī)定電容值偏差不超過額定值的一5%～+l o%以外，還規(guī)定電容值與出廠值之間的偏差：對高壓并聯(lián)電容器等和集合式電容器分別不應(yīng)小于出廠值的95%和9 6%；對耦合電容器等電容值不應(yīng)大于出廠值的102%（否則應(yīng)縮短試驗(yàn)周期）。其主要原因是控制運(yùn)行中元件電壓不超過規(guī)定值的1.1倍。
    對高并聯(lián)電容器，它有不帶內(nèi)部熔絲和帶內(nèi)部熔絲兩種。對不帶內(nèi)部熔絲的，在大多數(shù)情況下，擊穿一個(gè)元件，電容量變化一般均超過+IO%。此時(shí)，部分完好元件上的電壓將升高10%以上，電容器應(yīng)退出運(yùn)行；但對帶內(nèi)部熔絲的元件損壞引起電容減小，要控制電容量允許變化值不超過元件電壓規(guī)定值的Un/m(Un為電容器額定電壓，優(yōu)為串聯(lián)元件數(shù))的1.1倍。例如，電容器元件為1 3并8串，當(dāng)電容量減小9.7%時(shí)，部分完好元件上電壓可能zui大升高21%。如果出廠試驗(yàn)電容偏差+5%，則運(yùn)行中電容偏差雖未降至一5%，就可能有元件的運(yùn)行電壓超過1.1倍規(guī)定值。此時(shí)電容器也應(yīng)退出運(yùn)行，所以有這條規(guī)定對保證電容器的安全遠(yuǎn)行有利
     耦合電容器也是由多個(gè)元件串聯(lián)而成，大多數(shù)單節(jié)耦合電容器的串聯(lián)元件數(shù)在100個(gè)左右，當(dāng)有一個(gè)元件擊穿時(shí)，電容值約增大1%。考慮到溫度和測試條件影響，電容值增大2%以上時(shí)，應(yīng)考慮有一個(gè)元件擊穿。此時(shí)雖然電容器仍可以繼續(xù)運(yùn)行，但應(yīng)縮短預(yù)防性試驗(yàn)周期，查明原因，以保證安全運(yùn)行。
      對集合式電容器，規(guī)定每相電容偏差不超過出廠值的±5%，也是從這個(gè)角度考慮的。

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