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檢測(cè)技術(shù)

超聲波局部放電測(cè)試儀

來(lái)源:m.02595e.com    更新時(shí)間:2020-08-21

超聲波局部放電測(cè)試儀

簡(jiǎn)介:
 MEJFD-4000 超聲波局部放電測(cè)試儀是測(cè)量、分析電力設(shè)備絕緣性能的專用儀器;本系統(tǒng)采用現(xiàn)代電子和計(jì)算機(jī)綜合技術(shù),實(shí)現(xiàn)信號(hào)放大(模擬、電子、數(shù)字)、濾波、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、試驗(yàn)報(bào)告自動(dòng)生成,從而完成局部放電的測(cè)量,分析。
本儀器攜帶方便、測(cè)量快速,抗干擾能力強(qiáng),便于現(xiàn)場(chǎng)使用。其配置軟件具有時(shí)域圖形、2D、3D統(tǒng)計(jì)圖譜、報(bào)警歷史、歷史zui大、脈沖計(jì)數(shù)等功能,軟件也可以詳查分析某個(gè)相位波形,窗口隨意放大和縮小,也可以對(duì)該段數(shù)據(jù)進(jìn)行頻譜分析,分析放電波形的頻譜含量,使放電波形之間更具可比性,全面統(tǒng)計(jì)分析試驗(yàn)數(shù)據(jù),減少試驗(yàn)中非穩(wěn)定性因素對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響。采用自動(dòng)或手動(dòng)記錄保存試驗(yàn)數(shù)據(jù)和瞬態(tài)放電波形,可對(duì)后期數(shù)據(jù)分析提供參考。
超聲波局部放電測(cè)試儀
超聲波局部放電測(cè)試儀引用標(biāo)準(zhǔn)
1.高壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的共用技術(shù)要求 DL/T 593
2.3.6kV~~40.5kV 交流金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 DL/T 404
3.3.6kV~~40.5kV 交流金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 GB 3906
4.局部放電測(cè)量GB/T 7354
5.電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量導(dǎo)則 DL/T 417
6.高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第一部分:一般試驗(yàn)要求 GB/T 16927.1
7.高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第二部分:測(cè)量系統(tǒng) GB/T 16927.2
8.高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第3 部分: 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的定義及要求 GB/T 16927.3
             
超聲波局部放電測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):

技術(shù)特性

 

通道數(shù)

2個(gè)電信號(hào)接口,一個(gè)外同步接口

采樣率

0.5M、1M、2.5M、5M、10M、20M可選

采樣精度

12bit

量程切換

60dB、40dB、20dB、0dB、-20dB共5檔

頻帶范圍

20k-100kHz、80k-200kHz、40k-300kHz

本量程非線性誤差

5%

顯示

 

顯示屏

7” TFT真彩色觸摸液晶顯示屏

分辨率

800×480

存儲(chǔ)

 

物理存儲(chǔ)

256MB  DDR2,為運(yùn)行內(nèi)存

SD卡存儲(chǔ)

標(biāo)配16G卡,可升級(jí)為32G,用于存儲(chǔ)試驗(yàn)記錄及試驗(yàn)數(shù)據(jù)

接口

 

RS232

用于與PC機(jī)同步傳輸接口

USB

可外接鼠標(biāo)鍵盤,以及外接移動(dòng)存儲(chǔ)設(shè)備

電源模式

電池供電(16.8V鋰電池)+外置電源(18V)可連續(xù)提供8小時(shí)供電

電信號(hào)接口

2路BNC接口(前后面板各兩個(gè)),用于信號(hào)輸入

SMA接口

外同步接口

SD卡插槽

可插入zui大支持32G的SD卡

網(wǎng)口

可擴(kuò)展

接地鈕

外部接地用

通用說(shuō)明

 

CPU

主頻533MHz

系統(tǒng)

WINCE6.0

使用環(huán)境溫度

-20℃至45℃

存儲(chǔ)環(huán)境溫度

-20℃至60℃

尺寸

長(zhǎng)×寬×高:249mm × 216mm × 167mm

重量

4.7kg



超聲波局部放電測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)干擾及處理方法
1) 戶外架空線的強(qiáng)電暈干擾會(huì)對(duì)開關(guān)室的進(jìn)線柜及相鄰柜的超聲波和暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值造成影響。
2) 主變冷卻器等大電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)由于內(nèi)部線圈的轉(zhuǎn)動(dòng)會(huì)在外殼產(chǎn)生較高的暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值,進(jìn)而對(duì)開關(guān)室的進(jìn)線柜及相鄰柜的超聲波和暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值造成影響。
3) 蓄電池屏柜和直流屏柜由于內(nèi)部的整流電路,其暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值會(huì)異常高,但影響范圍小,在2、3 米開外即可忽略。
4) 靠近燈源會(huì)使超聲波測(cè)試值異常大。
5) 屋頂日光燈損壞后鎮(zhèn)流器不停啟動(dòng)會(huì)導(dǎo)致暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值提高很多,其影響范圍較大,可以覆蓋一個(gè)主控室或高壓開關(guān)室。
6) 開關(guān)柜背面的帶電指示器會(huì)造成暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值偏高。
7) 有些電子電路版、控制箱等會(huì)產(chǎn)生一定的干擾,對(duì)暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值產(chǎn)生影響,但影響范圍僅限于與其連接的金屬面,且不超過(guò)0.5m 的距離,如消防控制箱、開關(guān)柜就近控制保護(hù)屏等。
8) 鬧市區(qū)的構(gòu)架暫態(tài)對(duì)地電壓測(cè)試值受車輛等原因影響很大,但存在房屋的屏蔽措施時(shí),內(nèi)部的設(shè)備受影響較小。
9) 人耳可聽(tīng)的聲音等會(huì)對(duì)超聲波測(cè)試帶來(lái)極大干擾。
10) 電暈放電可明顯增大超聲測(cè)試法的數(shù)值,且其聲響與開關(guān)柜內(nèi)部產(chǎn)生的聲音基本類同。
11) 超聲測(cè)試法的干擾源影響距離一般較小,且有一定的方向性。
現(xiàn)場(chǎng)干擾的處理:
1) 關(guān)閉干擾源,如一些室內(nèi)的排風(fēng)扇、日光燈等。
2) 采用不同的時(shí)間進(jìn)行測(cè)試。
3) 避開無(wú)線電及其它電子裝置的干擾信號(hào)。
4) 通過(guò)局部放電定位儀確定信號(hào)的傳播方向來(lái)確定與被測(cè)設(shè)備相距較遠(yuǎn)的放電干擾源等方法實(shí)現(xiàn)。

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